JDSU bietet dynamische Testplattformen zum Testen von Line-Cards und Teilsystemen an. Darin eingeschlossen sind die Entwicklung und Validierung von Boards über die Verifizierung der Schnittstellenkonformität mit Offset/Augendiagramm/Jitter unter verschiedenen Umgebungsbedingungen sowie die Prüfung des Zusammenwirkens von Komponenten. Zudem stellt JDSU Zeit und Kosten sparende Produktionstests von Boards und Systemen mit reproduzierbaren und zuverlässigen Ergebnissen für bis zu 10 GigE, 40/43 G, 1 bis 10 GFC sowie ein offensives Konzept für 100 G/100 GigE zur Verfügung.